Leitung: Dr. Hans-Jürgen Engelmann

Arbeitskreis FIB-Anwendungen in der Materialographie

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Der DGM-Arbeitskreis "FIB-Anwendungen in der Materialographie" bietet eine Plattform für Kontakte zwischen Vertretern von wissenschaftlichen Institutionen, der Anwenderindustrie und der Gerätehersteller.

Ziele:

  • Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB) -Anwendungen in der Materialographie
  • Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
  • Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
  • Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
  • Mikrobearbeitung (Micromachining)
  • Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
  • Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
  • Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
  • Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
  • Erarbeitung von Empfehlungen/ Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller
 
Leitung: 
Dr. Hans-Jürgen Engelmann
GLOBALFOUNDRIES Dresden
Module One LLC & Co. KG
D-01109 Dresden 
TeleFon: +49-351-277-4100 
Email: hans-juergen.engelmann(at)globalfoundries.com
Bild des Benutzers Michael Engstler
Erstellt
am 16.09.2016 von
Michael Engstler